激光粒度分析儀是近二十幾年來快速發展起來的一種新型粒度分析儀，由于該儀器采用的計算機技術與激光原理相結合，充分發揮了各自的優勢，使粉體的粒度分析變得快速方便，滿足了粉體行業粒度分析的基本需要。再加上儀器生產廠家廣泛的宣傳(儀器分析快速、，精度高，分析精度0.001μm)，因此該儀器得到快速發展和應用。

　　今天咱們來了解下在激光粒度分析儀的使用過程中，會影響到設備測量結果的要素：

　　1、儀器光學設計影響粒度測試結果：不同廠家，以及不同型號的激光粒度儀產品，其設計往往不同，例如不同的光學設計（例如直線式光路設計和折疊式光路設計，透鏡后/前傅立葉變換，激光光束大小等），不同尺寸、焦距規格的傅立葉透鏡，不同的探測器數量和分布以及其靈敏度和噪音水平，不同規格的光學部件等都會造成相同顆粒所得到的光能分布的差異。同樣的道理，如果測量儀器光路或光學器件出現了狀態變化也會引起結果的偏差。

　　2、光能分布反演算法影響粒度測試結果：在實際測試中，儀器獲得信號是復合的，即一次探測獲取信號是多個顆粒信號疊加的結果。基于不同粒徑顆粒光能分布特性，用特定算法將復合信號拆分開來，得到所檢測多個顆粒的粒徑。由于不同探測器信號差別巨大（大顆粒散射光強度遠大于小顆粒），且有光源不穩定，背景噪音等因素的影響，對軟件算法的要求也非常高。因為不同型號光學設計和探測器分布是不同的，因此軟件算法也必然不同。在反演計算過程中會出現結果的不同。

　　3、測試條件的差異影響粒度測試結果：在實際粒度儀測試過程中，存在例如取樣代表性、儀器對中調節、光學參數及樣品循環參數設定，分散介質、分散劑、穩定劑的選擇和質量，樣品處理步驟等多種人為因素，以及溫度變化，電源穩定性，震動等客觀因素，都會造成測量結果的差異。

　　希望上述內容能夠幫助大家更好的了解本分析儀。